Возможность выбора из трёх вариантов чувствительности для прецизионных измерений больших сопротивлений и малых токов. 5,5-разрядные электрометры моделей 6514 и 6517B обеспечивают чувствительность 1 фА, входной импеданс более 200 ТОм при измерениях напряжения, а также измерения заряда вплоть до 10 фК. 6,5-разрядный субфемтоамперный источник-измеритель SourceMeter SMU с внешним усилителем SMU модели 6430 может использоваться для измерения тока с чувствительностью 1 аА. Благодаря низкому уровню шума и характеристикам дрейфа этот прибор идеально подходит для исследований одноэлектронных устройств, нанопроводов и нанотрубок с высоким сопротивлением, полимеров, а также для электрохимических исследований.
Характеристики |
Достоинства |
| Чрезвычайно низкий уровень шума (0,4 фА пик-пик для 6430, |
Более точные измерения чрезвычайно слабых токов при исследовании устройств и материалов. |
| Измерения сопротивлений до 10 16 Ом (6517B) |
Точное измерение сопротивления для материалов и изоляторов со сверхвысоким сопротивлением. |
| Внешний предусилитель может быть установлен на источнике сигнала (6430) |
Возможность прямого или очень короткого подсоединения к источнику сигнала для минимизации влияния источников шума, таких как кабель. |
| Низкая нагрузка по напряжению |
Исключение ошибок, влияющих на точность измерений слабых токов |
| Встроенный источник напряжения ±1 кВ с функцией свипирования (6517B) |
Упрощение процедур измерения утечек, напряжения пробоя и сопротивления, а также объемного (Ом-см) и поверхностного сопротивления (Ом/кв.) для материалов с высоким сопротивлением. |
| Опциональная камера сопротивлений модели 8009 для измерений объемных и поверхностных сопротивлений образцов материалов (6517B) |
Защита от контакта с потенциально опасными напряжениями — размыкание вывода камеры автоматически приводит к отключению источника напряжения прибора. |
| Высокоскоростные измерения сигналов низкого уровня |
Ускорение тестирования низкоуровневых компонентов |
| Программируемые цифровые вводы-выводы и встроенные интерфейсы |
Упрощение создания автоматизированных систем тестирования компонентов. |
Лабораторное оборудование 
